LEIPS選べる3タイプ
高精度LUMO準位測定、伝導帯DOS評価に！
低エネルギー逆光電子分光装置LEIPS LE-１シリーズ
有機材料の損傷ない高精度LUMO準位(電子親和力)測定を初めて実現！
さらに無機半導体、高分子材料などへ活躍の場を拡げています。
ご予算・目的により選べる構成
3タイプよりご予算・目的により選べる構成になっています。
| 名称 | IE-1 Complete | IE-1 Basic | IE-1 element | |
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| 形状 |  |
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| 構成 | ３室（計測室、ﾊﾞｯﾌｧｰ室、ﾛｰﾄﾞﾛｯｸ室） | 2室（計測室、ロードロック室） | 1室（計測室） | |
| 内容 | 試料4枚ストックバッファー室による効率的な計測。真空封止キャリアBOX装備。 | シンプル構成。真空封止キャリアBOX装備。 | 個別の真空システムにドッキングしてご使用いただきます。 | |
構成特長
●計測エネルギー分解能 0.5eV以下
●簡単操作（計測＆エネルギー評価）を実現するLEIPSソフト搭載
●専用電子銃と専用活性化工程により安定した低エネルギー電子放出を実現。
●測定点磁場ゼロ調機構。
●各種システムとのドッキングが容易な基板ホルダー搬送機構
●付属キャリアBOXにより大気暴露なしで基板着脱可能。
●多彩なオプション：高精度基板傾斜機構、蒸着機構etc
エネルギーダイヤグラム評価複合システム化 標準対応 エネルギーダイヤグラム評価
光電子分光装置（XPS,UPS）、PYS（光電子収量分光法）装置等とドッキング実績あります。
●イオン化エネルギー Ev
●ェルミ準位 Ef
●バンドギャップ EG
※株式会社東京インスツルメンツ様との協業によるPYS装置との複合装置提案可能です。
お問い合わせ
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